要測量粉末的體積電阻率，只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設備中即可。
該裝置施加給定的壓力，同時測量粉末的電阻率和壓制密度。
該方法使得從新的角度分析粉末的特性成為可能。該設備可用于電子元件和材料的開發(fā)和質(zhì)量控制。

特征
一旦您設置負載并按下開始按鈕，所有測量將自動完成。
新開發(fā)的氣缸泵可以在低負載（0.01KN）下進行測量。
粉末專用探頭（4 個探頭，環(huán)形電極）可讓您在任何壓力下在寬范圍內(nèi)測量粉末的電阻率。
各種粉末的形狀和粒度分布的差異可以從電阻率和壓制密度的壓力依賴性來理解。
采用探針裝置，可以輕松更換和清潔樣品。
測量目標
金屬粉末、金屬氧化物、陶瓷等金屬材料；活性炭、炭黑、碳納米管、石墨、石墨烯等碳材料。
二次電池電極、電容器、EV電機、線圈等電子部件材料
ITO粉體等薄膜原材料、導電漿料等電路板材料
墨粉相關(guān)的磁性材料，例如鐵氧體